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GB/T 11297.6-1989锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法

标准号:GB/T 11297.6-1989现行

中文名称:锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法

英文名称:Standard method for showing and measuring dislocation etch pits in Indium Antimonide single crystal

发布日期:1989-10-09      实施日期:1990-01-01      作废日期:

中标分类:【L90】 电子技术专用材料

ICS分类:

范围:本方法采用硝酸-氢氟酸腐蚀剂腐蚀,适用于锑化铟原始晶片(111)铟面α位错的显示和测定。测量面偏离(111)面应不大于3°。

 

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TAGS: GB/T

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